Aterramento Funcional em Sistemas Fotovoltaicos de Filme Fino

Abstract

Associado a expansão do setor fotovoltaico, estudos dos fatores de perdas apresentados em plantas em operação ganharam notoriedade na literatura pela busca do entendimento da causa e soluções dos danos. No universo de módulos fotovoltaicos de filme fino com estrutura de superstrato, fatores como a Degradação Induzida pelo Potencial (PID), corrosão eletroquímica da camada de Óxido Transparente Condutivo (TCO) e a delaminação das camadas são mais recorrentes na literatura e normalmente estão correlacionados através do potencial do gerador fotovoltaico e da corrente de fuga. Alguns procedimentos são adotados para evitar a ocorrência destes fatores de perda, garantindo o correto funcionamento do sistema. A isolação galvânica comumente é sugerida por fabricantes de módulos, porém essa medida isolada não é suficiente para solucionar integralmente esses fatores de perda. O aterramento funcional de sistemas fotovoltaicos de filme fino é indicado por fabricantes de módulos como recurso para impedir o surgimento do PID, através da polarização uniforme das células ao aterrar o pólo negativo do gerador fotovoltaico. Sendo assim, este estudo apresenta uma revisão da literatura referente aos fatores de perda que os módulos de filmes finos estão sujeitos, além dos procedimentos adotados para impedir o surgimento destes fatores de perda. Com isso, contribui como um guia rápido para os pesquisadores e estudantes no campo fotovoltaico.